应用领域

利用衍射原理，精确测定物质的晶体结构，织构及应力，精确的进行物相分析，定性分析，定量分析。广泛应用于冶金，石油，化工，科研，航空航天，教学，材料生产等领域。

设备核心参数

1. 最大输出功率：9 kW；管电压：20-45 kV；管电流：10-200 mA；高压稳定度：±0.005%(外电路波动：±1%)；最小焦斑尺寸：0.4×8 mm2。

2. 2θ转动范围：-5°~160°，可以停止在任何规定角度；测角仪半径：300 mm，测角圆直径可连续改变。

3. 可读最小步长：0.0001，角度重现性：0.0001。

4. 具有零维、一维阵列、二维面探测量模式，软件切换；提供的半导体阵列探测必须适合小角和广角测试，最低0.5度起测。

5. 像素数（子探测器个数）：298375个，且子探测器全部可用；像素物理尺寸100 μm×100 μm；支持固定和扫描模式及原位分析。

注意事项

1. 若样品在空气中不稳定，如易吸水，请务必告知。

2. 样品如果含有放射性元素如U、Th、Ra等，务必告知并确定是否可测。

3. 粉末样品：请准备至少50 mg，0.1 g以上最好，需要粒度均匀（粒度在45 μm左右或过200目筛子），手摸无颗粒感，面粉质感，送样前请务必研磨好。

4. 实验室一般默认测试的步长为0.02，有其它步长要求请提前说明。

收费信息

常规测试300元/小时，特殊模式测试请联系管理员商定价格。