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应用领域

利用衍射原理,精确测定物质的晶体结构,织构及应力,精确的进行物相分析,定性分析,定量分析。广泛应用于冶金,石油,化工,科研,航空航天,教学,材料生产等领域。

设备核心参数

最大输出功率:9kW;管电压:20-45kV;管电流:10-200mA;高压稳定度:±0.005%(外电路波动:±1%);最小焦斑尺寸:0.4×8mm2

转动范围:-5°~160°,可以停止在任何规定角度;测角仪半径:300mm,测角圆直径可连续改变。

可读最小步长:0.0001,角度重现性:0.0001

具有零维、一维阵列、二维面探测量模式,软件切换;提供的半导体阵列探测必须适合小角和广角测试,最低0.5度起测。

像素数(子探测器个数):298375个,且子探测器全部可用;像素物理尺寸100μm×100μm;支持固定和扫描模式及原位分析。

注意事项

1. 若样品在空气中不稳定,如易吸水,请务必告知。

2. 样品如果含有放射性元素如UThRa等,务必告知并确定是否可测。

3. 粉末样品:请准备至少50mg0.1g以上最好,需要粒度均匀(粒度在45um左右或过200目筛子),手摸无颗粒感,面粉质感,送样前请务必研磨好。

4. 实验室一般默认测试的步长为0.02,有其它步长要求请提前说明。

收费信息

常规测试300/小时,特殊模式测试请联系管理员商定价格。